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eng
ho
Pattern analysis for power safe testing and prediction using machine learning
inf 170
inf 740
Dhotre, Harshad
Universität Bremen
Hardware-Verifikation. Hardware-Zuverlässigkeit. Testen. Hardware-Fehlerdiagnose. Hardware-Fehlertoleranz. Signaturanalyse
Adaptive Systeme. Lernende Systeme. Maschinelles Lernen
03.e.0822
03.e.5912
ts 5611
Bremen
[2019?]
XI, 138 Seiten : Illustrationen, Diagramme
vorgelegt von Harshad Dhotre
Universität Bremen, Dissertation, 2019